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高速光（guāng）器件（jiàn）測試
6433P光波元件分析儀
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配置（zhì）選件
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獲取報價
調製頻率範圍覆蓋： 10MHz~110GHz
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典型應用
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單端光器件測試
針對電光調製器、直接（jiē）調製激光器等電光器件的S11參數和S21參數測（cè）試，利（lì）用多窗口顯示可快速（sù）獲（huò）取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針（zhēn）對光電探測器（qì）、ROSA、TIA集（jí）成組件等光電器件的S22參數和S21參數測試，利用光標功能可快速（sù）分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針（zhēn）對光纖濾波器等光光器件（jiàn）的S21參數測（cè）試（shì），可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。
幅頻特性測試
利用儀器（qì）提供的多種顯示模（mó）式,可（kě）實現相位、群（qún）時（shí）延等（děng）信息的顯（xiǎn）示（shì），可快速實現（xiàn）相頻特性等指標的（de）測量。
相頻特性測試
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平衡光器件測試
光波元件分析（xī）儀（yí）通過配置四端口機型，實現平衡光發射或光接收器件對（duì）差分增（zēng）益和共模抑製（zhì）參數的測試（shì）需求，更加貼合現（xiàn）有和（hé）未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。
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光芯片在片測試
6433P光波元件分析儀搭配探針台及高頻探針，可實現電光/光電芯片的頻響參數的測試。
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自（zì）動化測試
6433P光波元件分析儀提供標準的SCPI程（chéng）控指令集，方便用戶進行遠程控製。通（tōng）過網口，隻需完成設備的互聯，發送命令即可實現（xiàn）一體化的自動測試方案，方便用戶將光波（bō）元件分析儀與（yǔ）溫控、數字源表及被測件等共（gòng）同搭建光芯片測試係統。
