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產品綜述
6433P光（guāng）波元件分析儀是麵向高速電（diàn）光器（qì）件（jiàn）、光電器件及光光器件調製特性測（cè）試的儀器，頻率範圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光（guāng）測試、光電測試及光光測試（shì）4種測試模式，具有對數/線性幅（fú）度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式（shì），能夠精確測（cè）量光電網絡的幅（fú）/相頻特（tè）性，主要應用於高速電光器件（電（diàn）光強度調製器、直接調製激光器、光發射組件）、光電器件（jiàn）（探測器、光（guāng）發射組件、探測器芯片）及光光器件（光（guāng）衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測試。
功能特（tè）點
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主要（yào）特（tè）點
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；
最小頻率分辨率（lǜ）1Hz；
測試功能（néng）豐富（fù），具備傳輸、反射等多種參（cān）數測試功能；
一體化多功能測試界（jiè）麵；
向導（dǎo）式校準及一（yī）鍵式快（kuài）速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分析；
自動（dòng）夾（jiá）具移除，快速獲（huò）取探針數據；具（jù）有（yǒu）USB、LAN等接口和（hé）SCPI程控指令集，可實現自動（dòng）測試
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10MHz~110GHz 寬（kuān）頻帶同軸覆蓋（gài）
6433P光波元件分析儀調製頻率最高（gāo）可達110GHz，最小頻率分辨率為1Hz，可實現高（gāo）速寬頻帶（dài）光器（qì）件及光（guāng）芯片調製特性測試（shì）。
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一體化多功能測試向導界麵
6433P光波元件（jiàn）分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間（jiān）可任意切換，可滿足光器（qì）件的S參數、阻（zǔ）抗、時域等參數測量需求。一體化多功能界麵方便（biàn）用戶快速完成測量模（mó）式、光波參數、光路去嵌（qiàn）入參數、射頻去嵌入等參數的設置。
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向導式校準（zhǔn）及一鍵式測試
6433P光波元件分析（xī）儀進行微波域的電電校（xiào）準及光波域的光路校準（zhǔn）時，采用向導式校準，方便（biàn）用戶對儀器進行快速（sù）校準，獲得（dé）被（bèi）測件準確的測（cè）試結（jié）果。同時采用（yòng）一體（tǐ）化（huà）集成（chéng）設計方（fāng）案，利用核心算法，實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。
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多窗口快速（sù）顯示及分析
6433P光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每個（gè）窗（chuāng）口（kǒu）最（zuì）多可（kě）同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示（shì）。
高（gāo）分辨率多點觸控電容屏可快（kuài）速實現各種輸入和選擇（zé）操作，快捷高效，便於用戶快速（sù）分析數據，為用戶提供全新的光波（bō）元件分析儀操作體驗。
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自動夾具移除，快（kuài）速獲取探針數據
6433P光（guāng）波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解（jiě）決光（guāng）芯片S參數測試難題（tí）。測試時，將高頻探針等效為夾具，通過自（zì）動夾具移除功能測量高頻探針（zhēn）的時域參數，利用信號流圖提（tí）取頻域參數，形成（chéng）s2p文件，進而通過（guò）射頻去嵌入，實現（xiàn）光芯（xīn）片的高精度S參數測試。
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型（xíng）號 |
調製頻率範圍 |
工作波長 |
光功（gōng）率測試範圍 |
動態範圍 |
對比 |
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