聯係電話:
400-168-4191
產品綜述
6362C是一（yī）款高分（fèn）辨、大動態高速高（gāo）性能光譜分析儀，適用於350nm～1200nm光譜範圍（wéi）的DWDM等光係統測試；LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件測試；光纖等光無源器件（jiàn）測試。
功能特點（diǎn）
-
主要特點
20pm最小光譜分辨率
350nm～1200nm光譜掃描範圍
60dB大（dà）動態（tài）範圍
支持空間光輸入
強大的多（duō）應用（yòng）光譜數據分析功能
12.1英寸觸控顯示、全中文操作（zuò）
-
20pm最小分辨率
6362C光譜分析儀（yí）支持不同光譜分辨率的設置，多種（zhǒng）光譜分辨率設置靈活切換，最小光譜分辨率優於20pm。
-
峰值檢索
6362C光譜（pǔ）分析（xī）儀采用擁有自主知識產權的光譜自適應峰值檢索算法，峰值檢（jiǎn）索準確度高，自適應性和魯（lǔ）棒性強，且運算速度快。
-
單縱模激光光（guāng）譜分析
6362C光譜分析儀具備多（duō）場景光譜分析功能，針對DFB-LD等單縱模激光光源，儀器提供閾值分析和邊模抑（yì）製比分（fèn）析兩種分析（xī）方法，有效準確的評估單縱模待測光源的中心波（bō）長、光譜（pǔ）帶寬和邊模抑製比。
-
多縱（zòng）模激光光譜分析
針對FP-LD等多縱模激光光源，6362C光譜分析儀提供ndB損耗分析、包絡分析和均方根分析（xī）三種分析方法，多維度全麵（miàn）評估多縱模待測光源的中心波長和光譜帶寬。
ndB損耗法測試中心波長和（hé）光譜（pǔ）帶寬
包絡（luò）分（fèn）析法測試（shì）中心波長和光譜帶寬
均方根分析法測（cè）試中心波長和光（guāng）譜帶寬
-
多種光電子器件應（yīng）用分析功能
6362C光譜分（fèn）析儀可以對LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等（děng）各類型激光器進行一鍵測試與分析，實現所有測試項目批處理。儀器還（hái）集成（chéng）了光纖偏振模色（sè）散（sàn）測量應用、波分複用應用等光譜（pǔ）應用（yòng）功能。
可拖動左右查（chá）看（kàn）列表全部
|
型號 |
調製頻率範圍 |
工作波長（zhǎng） |
光功率測試範圍 |
動態（tài）範圍 |
對比 |
|---|
