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解決方案
相(xiàng)控陣天線環試測(cè)試係統
相控陣天線環試測試係統主要用於多種型號相控(kòng)陣天線的溫度(dù)(高溫、常溫、低溫)、振動等環境(jìng)試驗,根據不同環試條件下所得產品參數對產品環試(shì)適應性指標進行標定,能夠實(shí)現多台產品批量(liàng)測試。隨著相控陣天線產品批(pī)量生產任務的不斷增加,需要應對(duì)產能擴充帶來的硬件升級,相控陣(zhèn)天線環試測(cè)試係統設計方案根據對產品測試需求的可(kě)行性研究與分析,建立了基於“核心測試設備+主控計算機(jī)+測試應用開發”的設計思路,使測試係(xì)統(tǒng)總體架構更通(tōng)用化,也使測試係統具有使用便捷、可靠性好、安全性高、測試精度高及可擴(kuò)展性等技術特點。
主要特點
l 相控陣天線環試測(cè)試係統能進行(háng)相控陣天線的接(jiē)收、發射環境(jìng)試驗
l 能兼容多種型號的相控陣天線環(huán)境試驗
l 通過射頻信號(hào)處理單(dān)元、波控信號處(chù)理單元、電源切換單元等專用(yòng)設備實現多個被(bèi)測件的測試(測試設備分時複用(yòng))
l 可同次(cì)進行不同型(xíng)號的(de)相控陣(zhèn)天線環境試驗
l 具備(bèi)信息化管理功能
相控陣天線環試測(cè)試係(xì)統主要用於相(xiàng)控陣天線的接收、發射(shè)環境試驗(yàn)。
技術規範
參數名稱 | 技術指標 |
頻(pín)段 | |
可選頻段 | Ku波段、Ka波(bō)段(可擴展(zhǎn)其他(tā)頻段) |
工(gōng)業級計算機配置 | |
PXI機箱 | 9槽 |
PXI控製(zhì)器 | i7、8G、1T固態硬盤 |
射頻/微波儀器 | |
信號發生器 | 頻(pín)段10MHz~40GHz |
信號/頻譜分(fèn)析儀 | 頻段(duàn)10MHz~40GHz |
功率計 | 頻段10MHz~40GHz |
專(zhuān)用設備 | |
射頻信號處理單元 | 集成各波段功放,16個通道 |
波控信號(hào)處理(lǐ)單元 | 16個通道 |
電源切(qiē)換單元 | 16個通道 |
電源供電 | |
係統供電 | 220V±10%,≤2000W;380 V±10%,≤2000W |
大(dà)功率程控電源 | 10kW,500V/60A |
程控電源 | 8路(2路20 V/15 A、6路35 V/8.5A) |
測(cè)試參數 | |
相控陣天線發(fā)射性能 | 天線發射相(xiàng)關參數 |
相控陣天線接收性能 | 天線(xiàn)接收相關(guān)參數 |
可靠性指標 | |
穩定、可靠工作時間 | ≥240 h |
故障恢複時間 | ≤10 min |
訂(dìng)貨信息
設(shè)備名稱 | 數量 |
相控陣天(tiān)線環試測(cè)試(shì)係統 | 1套 |
用戶手冊 | 1套 |
合格證 | 1套
|
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